文献
J-GLOBAL ID:201802215522141413
整理番号:18A2107760
組込み試験のためのJTAG/境界スキャン【JST・京大機械翻訳】
JTAG/Boundary Scan for Built-In Test
著者 (1件):
Sguigna Alan
(Business Development, ASSET InterTech, Inc., Richardson, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
AUTOTESTCON
ページ:
1-3
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)