文献
J-GLOBAL ID:201802215557357661
整理番号:18A0186811
複雑な配列電流に基づく高インピーダンス故障点標定に関する研究【Powered by NICT】
Research on high-impedance fault location based on complex sequence current
著者 (4件):
Xue Shuangzhong
(School of Electrical Engineering, University of Jinan, Jinan 250022, China)
,
Cheng Xingong
(School of Electrical Engineering, University of Jinan, Jinan 250022, China)
,
Zong Xiju
(School of Electrical Engineering, University of Jinan, Jinan 250022, China)
,
Lv Yongxi
(Ling Cheng District of Dezhou City, Power Supply Company, Dezhou 253000, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CAC
ページ:
3816-3820
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)