文献
J-GLOBAL ID:201802216902694669
整理番号:18A0723383
誘電体複合材料と高分子の構造完全性を監視するための無線短波近接場プローブ【JST・京大機械翻訳】
A wireless shortwave near-field probe for monitoring structural integrity of dielectric composites and polymers
著者 (4件):
Kumar Deepak
(Department of Electrical and Computer Engineering, Michigan State University, East Lansing, USA)
,
Karuppuswami Saranraj
(Department of Electrical and Computer Engineering, Michigan State University, East Lansing, USA)
,
Deng Yiming
(Department of Electrical and Computer Engineering, Michigan State University, East Lansing, USA)
,
Chahal Premjeet
(Department of Electrical and Computer Engineering, Michigan State University, East Lansing, USA)
資料名:
NDT & E International
(NDT & E International)
巻:
96
ページ:
9-17
発行年:
2018年
JST資料番号:
A0196A
ISSN:
0963-8695
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)