文献
J-GLOBAL ID:201802217873390560
整理番号:18A0586765
アナログとディジタル回路の最適加速試験領域のための時間依存誘電体絶縁破壊の比較研究【Powered by NICT】
A comparison study of time-dependent dielectric breakdown for analog and digital circuit’s optimal accelerated test regions
著者 (4件):
Yang Kexin
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA)
,
Liu Taizhi
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA)
,
Zhang Rui
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA)
,
Milor Linda
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DCIS
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)