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文献
J-GLOBAL ID：201802218752876040
整理番号：18A0623956
熱擾乱とその実証単一/二重界面垂直MTJを用いたMTJの評価正確な熱安定性の新しい方法【Powered by NICT】
Novel Method of Evaluating Accurate Thermal Stability for MTJs Using Thermal Disturbance and its Demonstration for Single-/Double-Interface p-MTJ
Saito Takashi
(Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai, Japan)
,
Ito Kenchi
(Center for Innovative Integrated Electronic Systems, Tohoku University, Sendai, Japan)
,
Honjo Hiroaki
(Center for Innovative Integrated Electronic Systems, Tohoku University, Sendai, Japan)
,
Ikeda Shoji
(Center for Innovative Integrated Electronic Systems, Tohoku University, Sendai, Japan)
,
Endoh Tetsuo
(Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 54 号： 4 ページ： ROMBUNNO.3400505.1-5 発行年： 2018年
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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