文献
J-GLOBAL ID:201802218902160519
整理番号:18A0195923
適応1ビット測定からの平均推定【Powered by NICT】
Mean estimation from adaptive one-bit measurements
著者 (2件):
Kipnis Alon
(Department of Statistics, Stanford University, Stanford, CA)
,
Duchi John C.
(Department of Electrical Engineering and Department of Statistics, Stanford University, Stanford, CA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
Allerton
ページ:
1000-1007
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)