文献
J-GLOBAL ID:201802219171638245
整理番号:18A0720750
ソフトリソグラフィー格子とモアレ干渉法を用いたTBCsのYoung率の特性化【JST・京大機械翻訳】
Characterization for Young’s modulus of TBCs using soft lithography gratings and moire interferometry
著者 (3件):
Dai Xianglu
(AML, School of Aerospace Engineering, Tsinghua University, 100084 Beijing, China)
,
Cao Quankun
(AML, School of Aerospace Engineering, Tsinghua University, 100084 Beijing, China)
,
Xie Huimin
(AML, School of Aerospace Engineering, Tsinghua University, 100084 Beijing, China)
資料名:
Measurement
(Measurement)
巻:
122
ページ:
201-211
発行年:
2018年
JST資料番号:
W0315B
ISSN:
0263-2241
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)