文献
J-GLOBAL ID:201802220457057561
整理番号:18A0137906
CMOS-MEMSデバイスの安全放出のためのCMOSヒューズ【Powered by NICT】
A CMOS fuse for safe release of CMOS-MEMS devices
著者 (2件):
Qu Peng
(Department of Electrical and Computer Engineering, Oakland University, Rochester, Michigan 48309, USA)
,
Qu Hongwei
(Department of Electrical and Computer Engineering, Oakland University, Rochester, Michigan 48309, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICSENS
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)