文献
J-GLOBAL ID:201802220648072094
整理番号:18A1899038
ICストリップ線路測定のための放射放出のシミュレーション方法論【JST・京大機械翻訳】
Simulation Methodology of Radiated Emission for IC Stripline Measurements
著者 (8件):
Heuvelman Wilmar
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Janssen Rick
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Kapora Sergei
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Kwaaitaal Stefan
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Rodriguez Erick
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Kuenen Jeroen
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Schulz-Mewes Gunnar
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
,
Axer Philip
(NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
EMC Europe
ページ:
366-370
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)