文献
J-GLOBAL ID:201802221024510567
整理番号:18A1210884
ハイブリッドワイドドレインポリSi FinFETの信頼性研究【JST・京大機械翻訳】
Reliability study of hybrid wide drain poly-Si FinTFT
著者 (3件):
Yang Chan-Chia
(Department of Electronic Engineering, National Taipei University of Technology Taipei 106, Taiwan, R.O.C.)
,
Zeng Yan-Wei
(Department of Electronic Engineering, National Taipei University of Technology Taipei 106, Taiwan, R.O.C.)
,
Hu Hsin-Hui
(Department of Electronic Engineering, National Taipei University of Technology Taipei 106, Taiwan, R.O.C.)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ISNE
ページ:
1-2
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)