文献
J-GLOBAL ID:201802221344447521
整理番号:18A0189156
小型はんだボール欠陥の検出法に関する研究【Powered by NICT】
Study on detection method of small-size solder ball defects
著者 (3件):
Zhou Xiuyun
(School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Chen Yaqiu
(School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Lu Xiaochuan
(School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICICM
ページ:
213-217
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)