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J-GLOBAL ID：201802221494668447 整理番号：18A0505177

LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討

Investigation of a Measurement Method of Characteristic Variations in the FPGA Considering an LUT Structure

著者 (2件)：

佐藤晃平

(首都大学東京大学院システムデザイン研究科)

三浦幸也

(首都大学東京システムデザイン)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 117 号： 444(DC2017 77-88) ページ： 55-60 発行年： 2018年02月13日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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