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文献
J-GLOBAL ID：201802221747830728
整理番号：18A1043724
加速熱サイクル試験におけるRF同軸スイッチに及ぼすクリープの影響に関する研究【JST・京大機械翻訳】
Study on the Influence of Creep on RF Coaxial Switch in Accelerated Thermal Cycle Test
Xu Le
(Department of Electrical Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Ling Sanqiang
(Department of Electrical Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Zhai Guofu
(Department of Electrical Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
資料名：
IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology
(IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻： 8 号： 6 ページ： 966-974 発行年： 2018年
JST資料番号： W0590B ISSN： 2156-3950 CODEN： ITCPC8 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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