文献
J-GLOBAL ID:201802221767604711
整理番号:18A2107389
γ線検出器用のCd_0.9Zn_0.1Teの結晶成長と特性評価:熱刺激電流(TSC),電子ビーム誘起電流(EBIC)およびパルス高さ分光法(PHS)【JST・京大機械翻訳】
Crystal Growth and Characterization of Cd0.9Zn 0.1Te for Gamma-Ray Detectors: Thermally Stimulated Current (TSC), Electron Beam Induced Current (EBIC), and Pulse Height Spectroscopy (PHS)
著者 (3件):
Oner Cihan
(Electrical Engineering Department, University of South Carolina, Columbia, SC, 29208, USA)
,
Chowdhury Towhid A.
(Electrical Engineering Department, University of South Carolina, Columbia, SC, 29208, USA)
,
Mandal Krishna C.
(Electrical Engineering Department, University of South Carolina, Columbia, SC, 29208, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
NSS/MIC
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)