文献
J-GLOBAL ID:201802221958609373
整理番号:18A0845314
IC製造と試験における信頼性を実現するためのロバスト設計-セキュリティアーキテクチャ【JST・京大機械翻訳】
Robust Design-for-Security Architecture for Enabling Trust in IC Manufacturing and Test
著者 (3件):
Guin Ujjwal
(Department of Electrical and Computer Engineering, Auburn University, Auburn, AL, USA)
,
Zhou Ziqi
(Department of Electrical and Computer Engineering, Auburn University, Auburn, AL, USA)
,
Singh Adit
(Department of Electrical and Computer Engineering, Auburn University, Auburn, AL, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻:
26
号:
5
ページ:
818-830
発行年:
2018年
JST資料番号:
W0516A
ISSN:
1063-8210
CODEN:
ITCOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)