文献
J-GLOBAL ID:201802222159735855
整理番号:18A0190782
ニューラルネットワークとSVMモデル解析に対するLED装置故障診断【Powered by NICT】
LED device fault diagnosis base on neural network and SVM model analysis
著者 (4件):
Jiang Haisu
(The Fifth Electronics Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, China)
,
Ma Qingzhong
(The Fifth Electronics Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, China)
,
Yang Fuqin
(The Fifth Electronics Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, China)
,
Shen Mingming
(The Fifth Electronics Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
SSLChina: IFWS
ページ:
45-47
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)