文献
J-GLOBAL ID:201802223763689430
整理番号:18A0518942
雑音分散のBayerパターンを考慮した画像雑音推定と除去【Powered by NICT】
Image noise estimation and removal considering the bayer pattern of noise variance
著者 (5件):
Yue Huanjing
(Tianjin University, San Diego)
,
Liu Jianjun
(Tianjin University, San Diego)
,
Yang Jingyu
(Tianjin University, San Diego)
,
Nguyen Truong
(University of California, San Diego)
,
Hou Chunping
(Tianjin University, San Diego)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICIP
ページ:
2976-2980
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)