文献
J-GLOBAL ID:201802223852655539
整理番号:18A0160716
相変化メモリのための磁束-電荷メモリスタモデル【Powered by NICT】
Flux-Charge Memristor Model for Phase Change Memory
著者 (3件):
Secco Jacopo
(Department of Electronics and Telecommunications, Politecnico di Torino, Turin, Italy)
,
Corinto Fernando
(Department of Electronics and Telecommunications, Politecnico di Torino, Turin, Italy)
,
Sebastian Abu
(IBM Research-Zurich, Zuerich, Switzerland)
資料名:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻:
65
号:
1
ページ:
111-114
発行年:
2018年
JST資料番号:
W0347A
ISSN:
1549-7747
CODEN:
ITCSFK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)