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文献
J-GLOBAL ID:201802223852655539   整理番号:18A0160716

相変化メモリのための磁束-電荷メモリスタモデル【Powered by NICT】

Flux-Charge Memristor Model for Phase Change Memory
著者 (3件):
Secco Jacopo
(Department of Electronics and Telecommunications, Politecnico di Torino, Turin, Italy)
Corinto Fernando
(Department of Electronics and Telecommunications, Politecnico di Torino, Turin, Italy)
Sebastian Abu
(IBM Research-Zurich, Zuerich, Switzerland)

資料名:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs  (IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)

巻: 65  号:ページ: 111-114  発行年: 2018年 
JST資料番号: W0347A  ISSN: 1549-7747  CODEN: ITCSFK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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