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文献
J-GLOBAL ID：201802224141887553
整理番号：18A0001902
ニッケル含量による層状構造NCM系個体-電解質界面に対するX線光電子分光法分析
XPS Analysis for the SEIs of Layer-structured NCM Cathodes with Different Ni Content
OH Jimin
(韓国電子通信研究院)
,
SHIN Dong Ok
(韓国電子通信研究院)
,
KIM Ju Young
(韓国電子通信研究院)
,
LEE Young-Gi
(韓国電子通信研究院)
,
KIM Kwang Man
(韓国電子通信研究院)
資料名：
電池討論会講演要旨集
巻： 58th ページ： 35 発行年： 2017年11月13日
JST資料番号： L1273A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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