文献
J-GLOBAL ID:201802224470983102
整理番号:18A0968783
ソフト誘電体の電場誘起表面不安定性と光透過率および散乱に対するそれらの効果【JST・京大機械翻訳】
Electric-field induced surface instabilities of soft dielectrics and their effects on optical transmittance and scattering
著者 (3件):
Shian Samuel
(John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Harvard University, 29 Oxford Street, Cambridge, Massachusetts 02138, USA)
,
Kjeer Peter
(John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Harvard University, 29 Oxford Street, Cambridge, Massachusetts 02138, USA)
,
Clarke David R.
(John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Harvard University, 29 Oxford Street, Cambridge, Massachusetts 02138, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
123
号:
11
ページ:
113105-113105-10
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)