文献
J-GLOBAL ID:201802224528189209
整理番号:18A1512715
低ランクHankel構造の利用による同時不良測定の補正【JST・京大機械翻訳】
Correction of Simultaneous Bad Measurements by Exploiting the Low-rank Hankel Structure
著者 (2件):
Zhang Shuai
(Rensselaer Polytechnic Institute, Dept. of Electrical, Computer, and Systems Engineering, Troy, NY)
,
Wang Meng
(Rensselaer Polytechnic Institute, Dept. of Electrical, Computer, and Systems Engineering, Troy, NY)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ISIT
ページ:
646-650
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)