文献
J-GLOBAL ID:201802224828995092
整理番号:18A1046972
ミリ波移相器のオンチップ試験のための振動ベース試験技術【JST・京大機械翻訳】
An oscillation-based test technique for on-chip testing of mm-wave phase shifters
著者 (6件):
Margalef-Rovira M.
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP*, TIMA F-38000 Grenoble, France)
,
Barragan M. J.
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP*, TIMA F-38000 Grenoble, France)
,
Sharma E.
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, IMEP-LAHC, F-38000 Grenoble, France)
,
Ferrari P.
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP*, TIMA F-38000 Grenoble, France)
,
Pistono E.
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, IMEP-LAHC, F-38000 Grenoble, France)
,
Bourdel S.
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, IMEP-LAHC, F-38000 Grenoble, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
VTS
ページ:
1-6
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)