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文献
J-GLOBAL ID：201802225147827454
整理番号：18A0091753
蓄積電荷測定を用いたポリ-3(ヘキシルチオフェン)/金属界面における正孔注入障壁の推定【Powered by NICT】
Estimation of hole injection barrier at the poly-3(hexylthiophene)/metal interface using accumulated charge measurement
Tajima Hiroyuki
(Graduate School of Material Science, University of Hyogo, 3-2-1 Kohto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo 678-1297, Japan)
,
Yasukawa Naoto
(Graduate School of Material Science, University of Hyogo, 3-2-1 Kohto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo 678-1297, Japan)
,
Nakatani Hisaki
(Graduate School of Material Science, University of Hyogo, 3-2-1 Kohto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo 678-1297, Japan)
,
Sato Seiichi
(Graduate School of Material Science, University of Hyogo, 3-2-1 Kohto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo 678-1297, Japan)
,
Kadoya Tomofumi
(Graduate School of Material Science, University of Hyogo, 3-2-1 Kohto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo 678-1297, Japan)
,
Yamada Jun-ichi
(Graduate School of Material Science, University of Hyogo, 3-2-1 Kohto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo 678-1297, Japan)
資料名：
Organic Electronics
(Organic Electronics)
巻： 51 ページ： 162-167 発行年： 2017年
JST資料番号： W1352A ISSN： 1566-1199 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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