文献
J-GLOBAL ID:201802225152572693
整理番号:18A1042814
光熱検出を用いた異方性二次元材料の結晶方位の高精度測定【JST・京大機械翻訳】
High-accuracy measurement of the crystalline orientation of anisotropic two-dimensional materials using photothermal detection
著者 (6件):
Gao Xiaoguang
(The Key Laboratory of Weak Light Nonlinear Photonics, Ministry of Education, Teda Applied Physics Institute and School of Physics, Nankai University, Tianjin 300071, China. liuzb@nankai.edu.cn)
,
Chen Guoxing
,
Li Dekang
,
Li Xiaokuan
,
Liu Zhibo
,
Tian Jianguo
資料名:
Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices
(Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices)
巻:
6
号:
22
ページ:
5849-5856
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2383A
ISSN:
2050-7526
CODEN:
JMCCCX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)