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文献
J-GLOBAL ID:201802225231336655   整理番号:18A0848625

多形および確率的スピンHall効果デバイスを用いたハードウェアセキュリティの進歩【JST・京大機械翻訳】

Advancing hardware security using polymorphic and stochastic spin-hall effect devices
著者 (5件):
Patnaik Satwik
(Tandon School of Engineering, New York University, New York, USA)
Rangarajan Nikhil
(Tandon School of Engineering, New York University, New York, USA)
Knechtel Johann
(Division of Engineering, New York University Abu Dhabi, Abu Dhabi, United Arab Emirates)
Sinanoglu Ozgur
(Division of Engineering, New York University Abu Dhabi, Abu Dhabi, United Arab Emirates)
Rakheja Shaloo
(Tandon School of Engineering, New York University, New York, USA)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2018  号: DATE  ページ: 97-102  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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