文献
J-GLOBAL ID:201802226705364637
整理番号:18A1034682
小面積半導体試料のための球ベース反射率測定の統合【JST・京大機械翻訳】
Integrating sphere based reflectance measurements for small-area semiconductor samples
著者 (3件):
Saylan S.
(Masdar Institute, Khalifa University of Science and Technology, Abu Dhabi, United Arab Emirates)
,
Howells C. T.
(Masdar Institute, Khalifa University of Science and Technology, Abu Dhabi, United Arab Emirates)
,
Dahlem M. S.
(Masdar Institute, Khalifa University of Science and Technology, Abu Dhabi, United Arab Emirates)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
89
号:
5
ページ:
053101-053101-5
発行年:
2018年
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)