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文献
J-GLOBAL ID：201802226819565839
整理番号：18A0845120
演算Z2-FETメモリマトリックスの実験的実証【JST・京大機械翻訳】
Experimental Demonstration of Operational Z2-FET Memory Matrix
Navarro Santiago
(Department of Electronics, University of Granada, Granada, Spain)
,
Navarro Carlos
(Department of Electronics, University of Granada, Granada, Spain)
,
Marquez Carlos
(Department of Electronics, University of Granada, Granada, Spain)
,
El Dirani Hassan
(STMicroelectronics, Crolles, France)
,
Galy Philippe
(STMicroelectronics, Crolles, France)
,
Bawedin Maryline
(IMEP-LAHC, Grenoble INP Minatec, Grenoble, France)
,
Pickering Andy
(SureCore, Leeds, U.K.)
,
Cristoloveanu Sorin
(IMEP-LAHC, Grenoble INP Minatec, Grenoble, France)
,
Gamiz Francisco
(Department of Electronics, University of Granada, Granada, Spain)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 39 号： 5 ページ： 660-663 発行年： 2018年
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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