文献
J-GLOBAL ID:201802227806860220
整理番号:18A1597967
FETベースのサブテラヘルツ検出器の応答性のオンウエハ測定【JST・京大機械翻訳】
On-wafer Measurements of Responsivity of FET-based subTHz Detectors
著者 (7件):
Kopyt P.
(Inst. of Radioelectronics and Mult. Techn., ul. Nowowiejska 15/19, Warsaw, 00-665, Poland)
,
Salski B.
(Inst. of Radioelectronics and Mult. Techn., ul. Nowowiejska 15/19, Warsaw, 00-665, Poland)
,
Zagrajek P.
(Institute of Optoelectronics, Warsaw Military University, ul. W. Urbanowicza 2, Warsaw, 00-908, Poland)
,
Bauwens M.
(Dominion Microprobes, Inc., P.O. Box 4811, Charlottesville, VA, 22905, USA)
,
Obrebski D.
(Institute of Electron Technology, al. Lotniko ́w 32/46, Warsaw, 02-668, Poland)
,
Marczewski J.
(Institute of Electron Technology, al. Lotniko ́w 32/46, Warsaw, 02-668, Poland)
,
Barker N. S.
(University of Virginia, Charlottesville, VA, 22904-1000, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
IMS
ページ:
946-948
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)