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文献
J-GLOBAL ID：201802228215802517
整理番号：18A0030485
表面上の物体の走査型プローブ顕微鏡像粒分析のための汎用アルゴリズム【Powered by NICT】
Universal algorithm for scanning probe microscopy images grain analysis of objects on the surface
Balagan Semyon
(Institute of Automation and Control Processes FEB RAS Vladivostok, Russia)
,
Chusovitin Evgeniy
(Institute of Automation and Control Processes FEB RAS Vladivostok, Russia)
,
Goroshko Dmitry
(Institute of Automation and Control Processes FEB RAS Vladivostok, Russia)
,
Goroshko Olga
(Vladivostok State University Economics and Service Vladivostok, Russia)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： RPC ページ： 19-24 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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