文献
J-GLOBAL ID:201802229890667511
整理番号:18A0973721
2D対3D NAND技術:信頼性ベンチマーク【JST・京大機械翻訳】
2D vs 3D NAND technology: Reliability benchmark
著者 (2件):
Righetti Niccolo
(NAND Technology Development, Micron Technology, Inc., Boise, USA)
,
Puzzilli Giuseppina
(NAND Technology Development, Micron Technology, Inc., Boise, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IIRW
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)