文献
J-GLOBAL ID:201802229990744408
整理番号:18A1942806
高調波波形負荷の下でのスマートメータの精度を調べるためのANISTテストベッド【JST・京大機械翻訳】
ANIST Testbed for Examining the Accuracy of Smart Meters Under High Harmonic Waveform Loads
著者 (5件):
Steiner Richard
(National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899)
,
Farrell Michael
(National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899)
,
Edwards Shannon
(National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899)
,
Ford Joni
(The University of Ohio State, Columbus, OH)
,
Nelson Thomas
(National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
CPEM
ページ:
1-2
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)