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文献
J-GLOBAL ID：201802230918703013
整理番号：18A1520338
フォールトツリー解析によるオンチップ配線における深刻な故障事象の調査
Survey of critical failure events in on-chip interconnect by fault tree analysis
YOKOGAWA Shinji
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
,
KUNII Kyousuke
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57 号： 7S2 ページ： 07MG01.1-07MG01.7 発行年： 2018年07月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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