文献
J-GLOBAL ID:201802231025756156
整理番号:18A0163310
改善されたアナログ性能のためのヘテロ接合DG TFETの原料物質の評価【Powered by NICT】
Source material assessment of heterojunction DG-TFET for improved analog performance
著者 (3件):
Madan Jaya
(Microelectronics Research Lab, Department of Engineering Physics, Delhi Technological University, Bawana Road, Delhi-110042, India)
,
Shekhar Skanda
(Microelectronics Research Lab, Department of Engineering Physics, Delhi Technological University, Bawana Road, Delhi-110042, India)
,
Chaujar Rishu
(Microelectronics Research Lab, Department of Engineering Physics, Delhi Technological University, Bawana Road, Delhi-110042, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICMDCS
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)