文献
J-GLOBAL ID:201802231178838958
整理番号:18A0138427
ブラックボックス試験法としてのMC/DCを用いた【Powered by NICT】
Using MC/DC as a black-box testing technique
著者 (3件):
Vilkomir Sergiy
(Department of Computer Science, East Carolina University, Greenville, NC 27858)
,
Baptista John
(Department of Computer Science, East Carolina University, Greenville, NC 27858)
,
Das Gourav
(Department of Computer Science, East Carolina University, Greenville, NC 27858)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
STC
ページ:
1-7
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)