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文献
J-GLOBAL ID：201802232052392041
整理番号：18A0187778
現場から寿命記憶信頼性データ【Powered by NICT】
Lifetime memory reliability data from the field
Siddiqua Taniya
(RAS Architecture, Advanced Micro Devices, Inc.)
,
Sridharan Vilas
(RAS Architecture, Advanced Micro Devices, Inc.)
,
Raasch Steven E.
(AMD Research)
,
DeBardeleben Nathan
(Ultrascale Systems Research Center, Los Alamos National Laboratory)
,
Ferreira Kurt B.
(Center for Computing Research, Sandia National Laboratories)
,
Levy Scott
(Center for Computing Research, Sandia National Laboratories)
,
Baseman Elisabeth
(Ultrascale Systems Research Center, Los Alamos National Laboratory)
,
Guan Qiang
(Ultrascale Systems Research Center, Los Alamos National Laboratory)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： DFT ページ： 1-6 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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