文献
J-GLOBAL ID:201802232636408991
整理番号:18A0944445
5G高周波アンテナシステムの性能と信頼性:温度場の影響【JST・京大機械翻訳】
Performance and reliability of a 5G smartphone RF-antenna system: Influence of temperature field
著者 (4件):
Rolando David
(ANSYS Inc., 807 Las Cimas Pkwy #250, Austin, TX 78746, USA)
,
Abarham Mehdi
(ANSYS Inc., 2855 Telegraph Avenue #501, Berkeley, CA 94705, USA)
,
Shankaran Gokul
(ANSYS Inc., 807 Las Cimas Pkwy #250, Austin, TX 78746, USA)
,
Gandhi Viral
(ANSYS Inc., 150 Baker Avenue Ext #100, Concord, MA 01742, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
SEMI-THERM
ページ:
85-91
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)