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文献
J-GLOBAL ID：201802232871075530
整理番号：18A0616754
超高速走査型電子顕微鏡により研究した酸化アルミニウム薄膜の電荷動力学【Powered by NICT】
Charge dynamics in aluminum oxide thin film studied by ultrafast scanning electron microscopy
Zani Maurizio
(Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Sala Vittorio
(Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Sala Vittorio
(CNST@PoliMi, Istituto Italiano di Tecnologia (IIT), Via Giovanni Pascoli 70/3, Milano, Italy)
,
Irde Gabriele
(Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Irde Gabriele
(CNST@PoliMi, Istituto Italiano di Tecnologia (IIT), Via Giovanni Pascoli 70/3, Milano, Italy)
,
Pietralunga Silvia Maria
(CNST@PoliMi, Istituto Italiano di Tecnologia (IIT), Via Giovanni Pascoli 70/3, Milano, Italy)
,
Pietralunga Silvia Maria
(Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (IFN), CNR, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Manzoni Cristian
(Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (IFN), CNR, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Cerullo Giulio
(Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Cerullo Giulio
(Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (IFN), CNR, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Lanzani Guglielmo
(Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Lanzani Guglielmo
(CNST@PoliMi, Istituto Italiano di Tecnologia (IIT), Via Giovanni Pascoli 70/3, Milano, Italy)
,
Tagliaferri Alberto
(Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo da Vinci 32, Milano, Italy)
,
Tagliaferri Alberto
(CNST@PoliMi, Istituto Italiano di Tecnologia (IIT), Via Giovanni Pascoli 70/3, Milano, Italy)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 187 ページ： 93-97 発行年： 2018年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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