文献
J-GLOBAL ID:201802233063215112
整理番号:18A0446879
非フィラメント状(VMCO)メモリスイッチングと破壊モードに及ぼす二次元および三次元研究【Powered by NICT】
Non-filamentary (VMCO) memory: A two-and three-dimensional study on switching and failure modes
著者 (14件):
Celano U.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Gastaldi C.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Subhechha S.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Govoreanu B.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Donadio G.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Franquet A.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Ahmad T.
(University of Ghent, Ghent, Belgium)
,
Detavernier C.
(University of Ghent, Ghent, Belgium)
,
Richard O.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Bender H.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Goux L.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Kar G. S.
(imec, Leuven, Belgium)
,
van der Heide P.
(imec, Leuven, Belgium)
,
Vandervorst W.
(imec, Leuven, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IEDM
ページ:
39.1.1-39.1.4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)