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文献
J-GLOBAL ID：201802233845746498
整理番号：18A0335894
多結晶ニッケルナノ細線のミクロ磁気シミュレーションのための現実的なデータソースとしての透過型電子顕微鏡観察【Powered by NICT】
Transmission electron microscopy as a realistic data source for the micromagnetic simulation of polycrystalline nickel nanowires
Franca C.A.
(Pos-Graduacao em Ciencia de Materiais, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil)
,
Guerra Y.
(Pos-Graduacao em Ciencia de Materiais, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil)
,
Valadao D.R.B.
(Universidade Federal de Lavras, Lavras, MG 37200-000, Brazil)
,
Holanda J.
(Departamento de Fisica, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil)
,
Padron-Hernandez E.
(Departamento de Fisica, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil)
,
Padron-Hernandez E.
(Pos-Graduacao em Ciencia de Materiais, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil)
資料名：
Computational Materials Science
(Computational Materials Science)
巻： 128 ページ： 42-44 発行年： 2017年
JST資料番号： W0443A ISSN： 0927-0256 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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