文献
J-GLOBAL ID:201802234433410682
整理番号:18A1679901
EV充電プロファイルのロバスト同定【JST・京大機械翻訳】
Robust Identification of EV Charging Profiles
著者 (4件):
Wang Shengyi
(School of Electrical and Computer Engineering, Temple University, Philadelphia, PA)
,
Du Liang
(School of Electrical and Computer Engineering, Temple University, Philadelphia, PA)
,
Ye Jin
(School of Engineering, San Francisco State University, San Francisco, CA)
,
Zhao Dongbo
(Argonne National Laboratory, Lemont, IL)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ITEC
ページ:
1-6
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)