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J-GLOBAL ID:201802236180675811   整理番号:18A0188046

マルチインフィードH VDCシステムにおける転流失敗リスクの新しい解釈【Powered by NICT】

A new interpretation of commutation failure risk in multi-infeed HVDC systems
著者 (6件):
Wang Xiaohui
(Key Laboratory of Power System Intelligent Dispatch and Control (Ministry of Education), Shandong University, Jinan, China)
Bai Yu
(Key Laboratory of Power System Intelligent Dispatch and Control (Ministry of Education), Shandong University, Jinan, China)
Chen Qingjun
(Key Laboratory of Power System Intelligent Dispatch and Control (Ministry of Education), Shandong University, Jinan, China)
Gao Yadong
(Zhejiang Huayun Electric Power Engineering Design & Consulting Co. Ltd., Hangzhou, China)
Luo Jinshan
(State Power Economic Research Institute, Beijing, China)
Zhang Yan
(State Power Economic Research Institute, Beijing, China)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: EI2  ページ: 1-5  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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