文献
J-GLOBAL ID:201802236319539713
整理番号:18A1301021
Read:非対称SER分布を利用した3Dメモリにおける信頼性強化【JST・京大機械翻訳】
READ: Reliability Enhancement in 3D-Memory Exploiting Asymmetric SER Distribution
著者 (3件):
Han Hyunseung
(Memory Division, Samsung Electronics Hwaseong Site, Hwaseong, Gyeonggi-do, Korea)
,
Chung Jaeyong
(Electronic Engineering, Incheon National University, Incheon, Korea)
,
Yang Joon-Sung
(Department of Semiconductor Systems Engineering, Sungkyunkwan University - Suwon Campus, Suwon, Gyeonggi-do, Korea)
資料名:
IEEE Transactions on Computers
(IEEE Transactions on Computers)
巻:
67
号:
8
ページ:
1193-1201
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0233A
ISSN:
0018-9340
CODEN:
ICTOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)