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文献
J-GLOBAL ID：201802236540099137
整理番号：18A1806757
FPGAにおける過渡電圧変動の実験的評価と解析【JST・京大機械翻訳】
An Experimental Evaluation and Analysis of Transient Voltage Fluctuations in FPGAs
Gnad Dennis R. E.
(Institute of Computer Engineering, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
,
Oboril Fabian
(Institute of Computer Engineering, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
,
Kiamehr Saman
(Institute of Computer Engineering, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
,
Tahoori Mehdi B.
(Institute of Computer Engineering, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
資料名：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 26 号： 10 ページ： 1817-1830 発行年： 2018年
JST資料番号： W0516A ISSN： 1063-8210 CODEN： ITCOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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