文献
J-GLOBAL ID:201802236705927492
整理番号:18A1028651
二光子顕微鏡により調べた半導体における少数キャリア動力学【JST・京大機械翻訳】
Minority-carrier dynamics in semiconductors probed by two-photon microscopy
著者 (2件):
Gaury Benoit
(Center for Nanoscale Science and Technology, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA)
,
Haney Paul M.
(Center for Nanoscale Science and Technology, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PVSC
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)