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J-GLOBAL ID：201802237434090176 整理番号：18A0156275

オフアクシス電子ホログラフィのための絶縁体上Siチップ上の微細電子バイプリズム【Powered by NICT】

Fine electron biprism on a Si-on-insulator chip for off-axis electron holography

著者 (12件)：

Duchamp Martial

(School of Materials Science and Engineering, Nanyang Technological University, 50 Nanyang Avenue, Singapore 639798, Singapore)

,

Duchamp Martial

(Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) and Peter Gruenberg Institute (PGI), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

,

Girard Olivier

(Universite Grenoble Alpes, 38000 Grenoble, France)

,

Girard Olivier

(CEA, LETI, MINATEC Campus, 38054 Grenoble, France)

,

Pozzi Giulio

(Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) and Peter Gruenberg Institute (PGI), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

,

Pozzi Giulio

(Department of Physics and Astronomy, University of Bologna, viale B. Pichat 6/2, 40127 Bologna, Italy)

,

Soltner Helmut

(Central Institute of Engineering, Electronics and Analytics (ZEA-1), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

,

Winkler Florian

(Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) and Peter Gruenberg Institute (PGI), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

,

Speen Rolf

(Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) and Peter Gruenberg Institute (PGI), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

,

Dunin-Borkowski Rafal E.

(Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) and Peter Gruenberg Institute (PGI), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

,

Cooper David

(Universite Grenoble Alpes, 38000 Grenoble, France)

,

Cooper David

(CEA, LETI, MINATEC Campus, 38054 Grenoble, France)

資料名：

Ultramicroscopy (Ultramicroscopy)

巻： 185 ページ： 81-89 発行年： 2018年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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