文献
J-GLOBAL ID:201802238194894575
整理番号:18A0813676
SbドープZnO膜のXRD,SEM,XPS研究およびそのベースSchottkyダイオードの電気的性質【JST・京大機械翻訳】
XRD, SEM, XPS studies of Sb doped ZnO films and electrical properties of its based Schottky diodes
著者 (3件):
Caglar Yasemin
(Anadolu University, Science Faculty, Physics Department, Eskisehir, Turkey)
,
Caglar Mujdat
(Anadolu University, Science Faculty, Physics Department, Eskisehir, Turkey)
,
Ilican Saliha
(Anadolu University, Science Faculty, Physics Department, Eskisehir, Turkey)
資料名:
Optik
(Optik)
巻:
164
ページ:
424-432
発行年:
2018年
JST資料番号:
D0251A
ISSN:
0030-4026
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)