文献
J-GLOBAL ID:201802238562167387
整理番号:18A0587253
進行サブミクロンFinFET標準セルライブラリ用のセンス増幅器に基づく高速フリップフロップの設計【Powered by NICT】
Sense amplifier based high speed flip-flop design for advanced sub-micron FinFET standard cell library
著者 (5件):
Mittal Sajal
(Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India)
,
Bhatia Jaskaran
(Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India)
,
Deshpande Rajeela
(Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India)
,
Ghosh Abhishek
(Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India)
,
Rana Parvinder Kumar
(Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICCE-Asia
ページ:
88-91
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)