文献
J-GLOBAL ID:201802239051508733
整理番号:18A0144618
時系列データを用いた半導体デバイスの信頼性のための許容限界の決定【Powered by NICT】
Determination of tolerance limits for the reliability of semiconductor devices using longitudinal data
著者 (4件):
Hofer Vera
(Institute of Statistics and Operations Research, University of Graz, Universitaetsstrasse 15/E3, 8010 Graz, Austria)
,
Leitner Johannes
(Institute of Statistics and Operations Research, University of Graz, Universitaetsstrasse 15/E3, 8010 Graz, Austria)
,
Lewitschnig Horst
(Infineon Technologies Austria AG, Siemensstrasse 2, 9500 Villach, Austria)
,
Nowak Thomas
(Institute of Statistics and Operations Research, University of Graz, Universitaetsstrasse 15/E3, 8010 Graz, Austria)
資料名:
Quality and Reliability Engineering International
(Quality and Reliability Engineering International)
巻:
33
号:
8
ページ:
2673-2683
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0764C
ISSN:
0748-8017
CODEN:
QREIE5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)