文献
J-GLOBAL ID:201802239308112343
整理番号:18A1340193
イオン液体を用いた有機試料の二次イオン質量分析(SIMS)
Secondary Ion Mass Spectrometry of Organic Materials Using Ionic Liquids
著者 (2件):
藤原幸雄
(国立研究開発法人 産業技術総合研究所 分析計測標準研究部門)
,
齋藤直昭
(国立研究開発法人 産業技術総合研究所 分析計測標準研究部門)
資料名:
表面と真空
(Vacuum and Surface Science)
巻:
61
号:
7
ページ:
446-451(J-STAGE)
発行年:
2018年
JST資料番号:
G0194B
ISSN:
2433-5835
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)