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文献
J-GLOBAL ID：201802240009247075
整理番号：18A1859988
統合システムの過渡故障と動的バイアス部分回路を検出するためのボディ内蔵セル【JST・京大機械翻訳】
A body built-in cell for detecting transient faults and dynamically biasing subcircuits of integrated systems
Ferreira de Paiva Leite Thiago
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP 1Institute of Engineering, Univ. Grenoble Alpes., TIMA, Grenoble 38000, France)
,
Fesquet Laurent
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP 1Institute of Engineering, Univ. Grenoble Alpes., TIMA, Grenoble 38000, France)
,
Possamai Bastos Rodrigo
(Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP 1Institute of Engineering, Univ. Grenoble Alpes., TIMA, Grenoble 38000, France)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 88-90 ページ： 122-127 発行年： 2018年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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